德國EPK F20 測厚儀探頭 測厚范圍0~20000um
德國EPK 測(ce)厚(hou)(hou)儀探(tan)(tan)頭F20是(shi)MiniTest 1100/2100/3100/4100的(de)選配探(tan)(tan)頭，測(ce)厚(hou)(hou)范圍為(wei)0~20000um，F20探(tan)(tan)頭是(shi)磁性探(tan)(tan)頭，測(ce)試分辨率(lv)為(wei)10μm。

德國EPK 測厚儀探頭F20是適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆(fu)層，如玻(bo)璃、塑膠、混(hun)凝土等的磁性測頭，測量量程(cheng)低端分辨率(lv)為(wei)10μm。

MiniTest 標(biao)準(zhun)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)與特(te)(te)(te)殊(shu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是(shi)涂層測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀的(de)(de)核心部件。為(wei)了符(fu)合客戶(hu)(hu)的(de)(de)不(bu)同(tong)要(yao)求(qiu)(qiu)，我們除了供應(ying)符(fu)合常規要(yao)求(qiu)(qiu)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)以(yi)外， 還可以(yi)為(wei)客戶(hu)(hu)定(ding)做適合特(te)(te)(te)殊(shu)用途的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)。EPK公(gong)司的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是(shi)現代生產(chan)技(ji)術(shu)和50多年表面處理經(jing)驗的(de)(de) *結(jie)晶。 智能化測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) EPK公(gong)司開發出了一系列“智能化測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)"，即同(tong)一臺(tai)主(zhu)機可連(lian)接不(bu)同(tong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)來(lai)使用。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的(de)(de)參數和 特(te)(te)(te)性曲線存儲在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)里(li)，由主(zhu)機的(de)(de)微(wei)處理器(qi)處理。客戶(hu)(hu)可以(yi)根(gen)據自己的(de)(de)特(te)(te)(te)殊(shu)要(yao)求(qiu)(qiu)修訂這一曲線。 耐(nai)磨(mo)(mo)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 在(zai)制造(zao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)時，EPK公(gong)司大量運用鐘(zhong)表業(ye)的(de)(de)精密生產(chan)工藝(yi)。為(wei)保(bao)證其使用壽(shou)命，所有(you)(you)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)都經(jing)過特(te)(te)(te) 殊(shu)工藝(yi)處理，可以(yi)有(you)(you)效避免(mian)在(zai)長期使用后(hou)留(liu)下磨(mo)(mo)痕(hen)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的(de)(de)接觸端(duan)部使用寶石(shi)、硬質金屬與特(te)(te)(te)殊(shu)合金 等高耐(nai)磨(mo)(mo)材料。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)尖的(de)(de)表面經(jing)過打磨(mo)(mo)，及時在(zai)易損(sun)的(de)(de)物體(ti)上(shang)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量也不(bu)會留(liu)下痕(hen)跡。 兩用型測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 對于那些需要(yao)在(zai)鋼鐵和有(you)(you)色金屬基體(ti)上(shang)都進(jin)行(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)用戶(hu)(hu)，EPK公(gong)司研制出的(de)(de)兩用的(de)(de)FN型測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)，可 以(yi)用一直(zhi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)解決F和N兩類測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量問題。