產品概述
英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
無(wu)論(lun)對分析(xi)速(su)度的(de)(de)要(yao)求(qiu)有多高(gao)，我們創(chuang)新的(de)(de)CCI光(guang)(guang)學裝置非接(jie)觸(chu)式光(guang)(guang)學輪廓儀(yi)都能(neng)為(wei)您提供精密的(de)(de)3D表(biao)面(mian)測(ce)量結果。 高(gao)分辨率相(xiang)機(ji)與1/10埃垂直(zhi)分辨率相(xiang)結合，無(wu)論(lun)是測(ce)量非常粗糙的(de)(de)表(biao)面(mian)，還(huan)是測(ce)量極其光(guang)(guang)滑的(de)(de)表(biao)面(mian)，都能(neng)獲(huo)得令人不可思(si)議的(de)(de)詳細分析(xi)。
●2048 x 2048像(xiang)素陣列，視場廣，高分辨率
●全量程0.1埃的分辨率
●輕松測量(liang)反射(she)率為0.3% - 100%的(de)各種表面
●RMS重復精(jing)度(du)<0.2埃，階躍高度(du)重復精(jing)度(du)<0.1%
●多語言版(ban)本的(de)64位控制和分(fen)析軟件
先進的光學干涉測量技術
• 非壓電陶瓷閉環Z軸掃(sao)描(miao)(miao)控制，2.2毫米(mi)掃(sao)描(miao)(miao)范圍
• 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米(mi)
• 1024 x 1024像素陣列可獲得高分(fen)辨率(lv)的大(da)視場(chang)
• 增強了角度靈敏(min)度，能夠得(de)到更好的測量數據(ju)
從實質上消除測量的不確定性
• RMS重復性小于0.2埃(ai)，臺(tai)階高度重復性小于0.1%
• 整個(ge)測量(liang)量(liang)程有著(zhu)0.1埃分辨率
• FEA優化機械設(she)計，具備出色的R&R能(neng)力(li)
• 采(cai)用(yong)ISO標準的校準，確保(bao)結果的可信(xin)度
追求長期成本效益的堅固耐用設計
• 非壓電(dian)Z軸掃(sao)描控制可(ke)省去昂貴的維修費用(yong)
• 自動表面檢測可防止(zhi)撞(zhuang)壞鏡頭
• 內(nei)置自(zi)我(wo)診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡便性(xing)可(ke)減少(shao)使用者出(chu)錯可(ke)能
64位控制和分析軟件
• 包(bao)括中文(wen)、日文(wen)在內的多(duo)語種(zhong)支持
• 兼容大多數計算機平(ping)臺，有利于開展(zhan)合作(zuo)性(xing)研究項目
• 提(ti)供多種新(xin)工具，包括(kuo)3D表面隨時間(jian)演變過程中進(jin)行4D分析
• 根據多批次測量數據自動生成報告
- 上一(yi)個： Talysurf PGI Dimension 輪廓儀主要特性
- 下一個(ge)： 同時表面粗糙度和輪廓測量的Taylor Hobson
